Plaquettes type N-Gokin Solar Co., Ltd.

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Accueil > Produits > Plaquettes de silicium monocristallin

Plaquettes type N

0.6-1.6 <Ω·cm>

Résistivité

≤12 <ppma>

Teneur en oxygène

≤1 <ppma>

Teneur en carbone

≥800 <µs>

Durée de vie

0.6-1.6 <Ω·cm>

Résistivité
≤12 <ppma>

Teneur en oxygène
≤1 <ppma>

Teneur en carbone
≥800 <µs>

Durée de vie

Propriétés des matériaux

Item

Norme

Méthode de détermination
Méthode de croissance

Étirement droit

--
Cristallinité

Monocristallin

--
Type conducteur

Type N

Testeur PN
Dimensions

M10 : 182,2 x 182,2 x ⌀247 mm
G12 : 210 x 210 x ⌀295 mm
G12-R : 182.3 x 210 x ⌀272 mm

Trieuse de plaquettes
Épaisseur

M10 : 90-160 µm
G12 : 90-160 µm
G12-R : 90-160 µm

Trieuse de plaquettes

Item	Norme	Méthode de détermination
Méthode de croissance	Étirement droit	--
Cristallinité	Monocristallin	--
Type conducteur	Type N	Testeur PN
Dimensions	M10 : 182,2 x 182,2 x ⌀247 mm G12 : 210 x 210 x ⌀295 mm G12-R : 182.3 x 210 x ⌀272 mm	Trieuse de plaquettes
Épaisseur	M10 : 90-160 µm G12 : 90-160 µm G12-R : 90-160 µm	Trieuse de plaquettes

Propriétés électriques

Item

Norme

Méthode de détermination
Résistivité

0.6-1.6<Ω·cm>

Trieuse de plaquettes
Durée de vie

≥800<µs>

Testeur de durée de vie BCT-400
Teneur en oxygène

≤12<ppma>

Spectromètre infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) FTIR (ASTM F121-83)
Teneur en carbone

≤1<ppma>

Spectromètre infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) FTIR (ASTM F123-91)

Item	Norme	Méthode de détermination
Résistivité	0.6-1.6<Ω·cm>	Trieuse de plaquettes
Durée de vie	≥800<µs>	Testeur de durée de vie BCT-400
Teneur en oxygène	≤12	Spectromètre infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) FTIR (ASTM F121-83)
Teneur en carbone	≤1	Spectromètre infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) FTIR (ASTM F123-91)

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